半導體
集成電路工藝
碳氧含量測量

半導體專用傅立葉變換紅外光譜儀

  • 產品型號：QS1200
  • 制造原廠：Nanometrics Inc.

Nanometrics推出QS1200臺式系統，用于半導體材料內部含量檢測,同質外延厚度測量和其他應用。

QS1200設計用于先進的半導體工廠，在硅生長和器件制造領域進行材料表征。



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