GAM為反射和透射測試提供了一個獨特的高性能選項。這些系統能捕獲薄膜涂層的完整光譜和比色特性，掃描時間通常不到一秒。
多層膜厚度和樣品平面度也可以平行監測。
來自GAM的反射和透射測試系統有幾種配置。根據樣本類型和期望的測量結果，可以使用各種系統配置來測試拋光（鏡面）或粗糙（漫射）樣本。本手冊中包含了一個生產選擇指南，以幫助您配置最佳的系統以滿足您的需要。
這些系統對于需要快速準確測量平板顯示器玻璃、防反射涂層檢查、光電（太陽能電池）涂層、光學濾光片、透鏡涂層、油漆樣品、漫射塑料等的制造商來說是理想的。
對> 500μm厚的薄玻璃基板的隔離第一面表面測量
完整的光譜分析
測試涂層均勻性和比色分析
研發或生產的全周期測試
GS-191FA-1045旋轉反射測量系統 | ||
191光學頭 | 10度 | 45度 |
測量類型 | 第一面表面鏡面反射 | 第一面表面鏡面反射 |
樣本類型 | 玻璃 | 玻璃 |
照明角度 | 10° | 45° |
可視角度 | 10° | 45° |
最小樣品厚度 （僅限第一表面反射） | 0.5mm（透明樣品） | 0.25mm（透明樣品） |
最大樣品厚度 | 6mm | 6mm |
最大樣本尺寸 | 客戶定義 一臺機器可以支持 三種不同的面板尺寸 | 客戶定義 一臺機器可以支持 三種不同的面板尺寸 |
光譜范圍 | 360nm-830nm | 360nm-830nm |
照明點尺寸（分析領域） | 1mm x 10μm | 1mm x 10μm |
測量速度 （取決于樣品） | <1500ms | <1500ms |
校準參考標準 | 內置BK-7拋光玻璃 | 內置BK-7拋光玻璃 |
旋轉系統規格 | ||
191光學頭 | 191F-1045雙角度光學器件 | |
每個面板的測量位置 | 三個測量位置標準 最多可配置五個位置 可配置為10和45度 在任何地點進行測量 | |
玻璃測量位置 | 八個玻璃測量位置 三個用于裝載/卸載 五個用于測量光學系統 | |
周期 | 每個面板<6秒， 裝載和卸載最多3秒 （如果加載/卸載超過3秒，則循環時間會增加） | |
系統尺寸 | 高度：1.75m 寬度：1.6m 深度：1.6m 重量：約1000kg | |
測量精度 | ||
光譜反射 | ± 0.5% | ± 0.5% |
三色 （CIE 1931 X，Y，Z） | ± 0.05 | ± 0.10 |
色度 （CIE 1931 x，y） | ± 0.005 | ± 0.005 |
LAB顏色 （CIE 1976 L *，a *，b *） | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 |
平均反射率 | ± 0.2 | ± 0.2 |
報告的參數 | ||
光譜數據 | 作為波長的函數的反射率 | |
比色數據 | 具有2°或10°視角，（L *，a *，b *），（x，y），（u'，v'）的CIE三色激勵X，Y，Z和其他參數 | |
