特點：
2”~6”LED EL特性Wafer Level量測，可測試亮度，波長，色座標，半高寬，電學參數等參數
LED Wafer平均分布5點，9點或更多點位置量測
6ψ大面積探針保證接點安全，防止人工點銦球誤差
密閉式測試環境，屏敝外界光影響，測試精度高
電子切換開關，接觸電阻低，壽命長
搭配兩款測試主機皆可實現自動測試，數據存儲分析功能
系統配置：
M2442S-9A 9點自動測試平臺
桌上型電腦（含測試軟體）
9點點銦球對位治具
測試主機（可選）：
維明LED617HC LED光電參數測試儀
GAMMA GS-1190光譜儀+
Keithley 2400源表
光度計規格:
Amperes 1.999E-09 to 1.999E-03
Watts 1.999E-09 to 1.999E-03
Joules 1.999E-09 to 1.999E-06
Lux 1.999E-02 to 1.999E+04
Lux-Seconds 1.999E-02 to 1.999E+01
Ft-Candle 1.999E-03 to 1.999E+03
Footlamberts 1.999E-01 to 1.999E+05
Nits 1.999E-01 to 1.999E+05
光譜儀規格:
Detector: 2048-element linear silicon CCD array
Effective range: 200-1100nm
nmDynamic range: 2 x 108
Sensitivity (estimate):
86 photons/count; also, 2.9 x 10-17
joule/count
2.9 x 10-17 watts/count (for 1-second
integration)
Signal-to-noise: 250:1 (at full signal)
Dark noise: 2.5-4.0 (RMS)
